品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價格區間 | 面議 |
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產地類別 | 進口 | 應用領域 | 環保,化工,石油,能源,電子 |
菲希爾X-RAY XDLM231/XDLM232/XDLM237
FischerXDLM232
FischerXDLM232
從1953年至今,菲希爾公司不斷地在涂鍍層測厚、材料分析、微硬度測量和材料測試領域發展出創新型的測量技術。如今,菲希爾的測量技術已在世界各地得到應用,滿足客戶對儀器準確度,精度和可靠性的要求。
兩種型號的儀器都配備了比例接收器探測器。即使對于很小的測量點,由于接收器的接收面積很大,仍然可以獲得足夠高的計數率,確保良好的重復精度。比較XUL和XUM儀器而言, XDL和XDLM系列儀器測星測星方向從.上到下。它們被設計為用戶友好的臺式機,使用模塊化結構,也就是說它們可以配備簡單支板,各種XY工作臺和Z軸以適應不同的需求。
裝備了可編程XY工作臺的版本的XDL系列儀器可用于自動化系列測試。它能夠很便當地掃描外表,這樣就能夠檢查其平均性。為了簡單快速定位樣品,當丈量門開啟時, XY工作臺自動挪動到加載位置,同時激光點指示測星點位置。關于大而平整的樣品,例如線路板,殼體在側面有啟齒(C形槽)。由于測星室空間很大,樣品放置便當,儀器不只能夠丈量平面平整的物體,也能夠測星外形復雜的大樣品(樣品高度可達140mm)。Z軸可電動調整的儀器,丈量間隔還能夠在0 - 80 mm的范圍內自在選擇,這樣就能夠測星腔體內部或外表不平整的物體(DCM辦法)。
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 231
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 232
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237
菲希爾X-RAY XDLM231/XDLM232/XDLM237